半導体、電子部品の静電気破壊(ESD/CDM)・ラッチアップに対する信頼性を評価する静電破壊試験器

Test & Measurement Technology

半導体デバイスの信頼性向上を目的とする、国内、国際(JEITA、JEDEC、ESDA、AEC)試験規格に準拠した静電気評価器機のラインナップです。全自動の静電破壊(ESD)試験器、ラッチアップ(Latch-Up)試験器、CDM試験器から、マニュアルのESD試験、CDM試験まで幅広い用途に対応いたします。

全自動ESD/CDM/ラッチアップ試験器

    多ピン・高速試験 対応機
    写真
    最大
    ピン数
    最大
    印加電圧
    VCC電源
    試験
    モデル
    内部
    外部
    ESD
    CDM
    L-UP
    破壊判定
    用途
    MODEL 7000X
    1024
    4500V
    4
    8
    -
    多ピンIC
    8000V
    512
    4500V
    4
    4
    8000V
    4500V
    -
    -
    -
    -
    -
    大型液晶
    8000V
    MODEL 7600L
    -
    4
    8
    -
    -
    多ピンIC
    MODEL 7500
    128
    4500V
    4
    8
    -
    -
    少ピンIC
    MODEL CDM550
    2048
    (512)
    4000V
    -
    -
    -
    -
    -
    IC
    LSI
    4
    4

    ESD/CDM/ラッチアップ試験 対応機
    写真
    最大
    ピン数
    最大
    印加電圧
    VCC電源
    試験
    モデル
    内部
    外部
    ESD
    CDM
    L-UP
    破壊判定
    用途
    全自動ESDテストステーション
    -
    4500V
    -
    -
    -
    電子部品
    LED
    8000V
    -
    全自動ESDステーション
    128
    4500V
    4
    4
    IC
    LSI
    8000V
    -
    256
    4500V
    8000V
    -

ESD/CDM/TLPシミュレータ

TLP試験器

  • モデル4002/4012 モデル4002/4012
    ■世界初の商用TLPテストシステム
    ■リーク測定機能内臓
    ■超高速応答のスナップ・バック測定

CMRテスタ

  • モデル6250 モデル6250
    ■dv/dt高電圧パルス発生器
    ■パルス出力電圧(dt):±100V〜±1.5KV
    ■dv/dtの選択:1KV/us、5KV/us、10KV/us、20KV/us、30KV/us