ESD試験・CDM試験に加え、ラッチアップ耐性も評価できる全自動の信頼性試験装置です。

Test & Measurement Technology

ESDテストステーション ESD/CDM/ラッチアップ試験器
モデル1200シリーズ

1200E:MM、HBMモデル
1200EL:MM、HBM、ラッチアップモデル
1200ELC:MM、HBM、ラッチアップ、CDMモデル
ESDステーション[モデル1200]

モデル1200シリーズは、1台でESD/CDM/LATCH-UP試験を可能とした世界初の試験器で、最大256ピンのプログラマブルピンコンビーネーションにより安定かつ効率の良い試験を保証いたします。

最大の特長は、ワークエリアの広さで、複雑な形状の半導体デバイス、基板実装部品、モジュール製品へのESD/CDM印加を可能としました。 また、用途に合わせたDUTボードを製作することで、LED部品から多ピンデバイスまで幅広い製品評価に御使用いただけます。

特長・機能

  • MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合
  • 1台でHBM、MM、CDM、LATCH-UP4種以上の信頼性評価試験が可能
  • 最大印加電圧 8000V
  • 最大印加ポイント1500ピン
  • 印加前後のV-Iカーブ比較による破壊判定機能
  • 精密測定電源による、nA単位でのリーク判定が可能
  • カメラ搭載により、微細部品・チップ部品への直接印加が可能
  • 基板実装部品、特殊形状部品、モジュール製品の試験が可能
  • イミュニティ試験を応用したデバイス評価
  • 電源端子への高速パルス印加が可能
  • 高温器を接続して最大125℃までのラッチアップ試験可能
  • ラッチアップ発生過程のモニタ
  • LAN 回線を接続することにより、遠地からの試験条件の作成、試験の開始指令の外データ収集等可能
  • 試験結果は、PC上のデータベースにより管理可能
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