【多ピン全自動試験装置】ESD/ラッチアップテスタ|モデル7000A/7000X

Test & Measurement Technology

ESD/LATCH-UPテスタ 最大ピン数:512/1024ピン
モデル7000A/7000X

最大1024ピン:モデル7000XE/7000XL/7000XEL
最大512ピン:モデル7000AE/7000AL/7000AEL
ESD/LATCH-UPテスタ[モデル7000X]

人体モデル(HBM)、機械モデル(MM)のESD試験は半導体素子の静電気放電に対する信頼性試験の中心的課題です。 また、ラッチアップ試験は、主にCMOS ICの信頼性試験項目として省略することはできません。M7000シリーズは、このようなニーズに応えられる最新のESDラッチアップ試験装置です。

M7000シリーズでは、1軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。そのため、数年に1度はアップデートされる、新波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットのみの変更で対応でき、長期間ご使用いただけます。
また、最新規格対応から、古い規格へ戻して試験する事も容易にできます。現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。

特長・機能

  • MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合
  • 最大10個のデバイスを同時に試験可能。
  • ESDパルス印加時間を従来の1/10以下(高速ESD印加設定時)
  • ロケット搭載用コネクタを採用しているため信頼性も高く、高温器内でも使用可能。
  • 放電波形は国内外の規格を満足するだけでなく、デバイス・メーカ独自の社内規格に対応する事も可能。
  • 1ピンに1枚の小型ボードを採用している為、経路の低インピーダンス化を実現し、保守も容易。
  • LAN 回線を接続することにより、遠地からの試験条件の作成、試験の開始指令の外データ収集等可能。
  • 多ピンDUTボードをスイッチ1つで抜去可能。
  • 高温器を接続して最大125℃までのラッチアップ試験可能。
  • ラッチアップの特定ポイントをエミッション顕微鏡で検出可能。
  • ラッチアップの温度特性測定
  • ラッチアップ発生過程のモニタ
  • エミッション顕微鏡接続
  • マルチデバイス対応のDUTボード
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