帯電したデバイス、部品、ウェハーからの放電現象(CDM)による、静電気破壊をシミュレーションします。

Test & Measurement Technology

CDMテスタ モデルCDM-550シリーズ

CDM-550D/550DQ/550FQ/550DFQM
全自動CDMテスタ/CDM550シリーズ

CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。 (CDM:Charged Device Model、デバイス帯電モデル)。

これまでのCDM試験装置では、電子部品が壊れる充放電電圧を測定していましたが、この値は、電子部品の設置又は測定される環境(対地静電容量)により変化します。これに対して電荷量基準の破壊耐量は一定ですから、生産現場での静電気制御レベルに直接利用できます。

モデル CDM-550D

直接充電方式のCDM試験装置です。これまで、主に日本国内で普及しているモデルです。

モデル CDM-550F

誘導帯電方式のCDM試験装置です。米国、ヨーロッパ等で主に使用されている方式です。破壊検出用DCテスト機能、テストヘッドを付加すると、全自動CDM試験機となります。ただし、ピン数、パッケージにより制限があります。

特長・機能

  • JEDEC、EIAJ、ESDA規格対応
  • 直接充電方式CDM試験(モデル550Dシリーズ)
  • 誘導帯電方式CDM試験(モデル550Fシリーズ)
  • 誘導帯電および直接充電方式CDM試験(モデル550DFシリーズ)
  • 放電電荷量測定機能
  • 安定性のある放電電流波形
  • 高電圧でのピン容量測定
  • 簡単で正確なピンの位置合わせ
  • 最大10デバイスの自動試験
  • 全自動試験機に構築可能
  • 破壊電圧、破壊エネルギーの計測
  • BGA、TCPも容易に試験
  • 設計評価、製造工程評価
  • リレー方式採用
  • 通信回線による試験の監視と制御
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