【ESD試験器・ラッチアップ試験器】128ピン ESD/ラッチアップ テスタ|モデル7500

Test & Measurement Technology

ESD/LATCH-UPテスタ 最大ピン数:128ピン モデル7500

モデル7500E/7500L/7500EL
ESD/LATCH-UPテスタ[モデル7500E]
【モデル7500E】
人体モデル(HBM)、機械モデル(MM)のESD試験は、半導体素子の静電気放電に対する信頼性試験の中心的課題です。また、ラッチアップ試験は、主に、CMOS ICの信頼性試験項目として、省略することはできません。M7500は、128ピンまでのICに対し、低価格のESDラッチアップ試験装置です。

 

ESD/LATCH-UPテスタ[モデル7500EL/ET]
【モデル7500EL】
M7500では、1軸ロボットに取りつけたESDパルス発生ユニットでESDのモデルを決定します。そのため、数年に1度はアップデートされる、新波形規格への対応が、ESDパルス発生ユニットのみの変更で対応でき、長期間ご使用いただけます。

また、最新規格対応から、古い規格へ戻して試験する事も容易にできます。
現在、規格案を討議中の、トランジェント・ラッチアップの規格等も、制定されれば、短時間で対応できます。

特長・機能

  • MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合
  • トータル128ピン以下で最大10個のデバイスを同時に試験可能。
  • PCモニタ画面上でV−Iカーブを目視確認しながら試験可能。
  • ピンコンビネーション試験に完全に対応可能。
  • 高速ESD印加可能。
  • ロケット搭載用コネクタを採用しているため信頼性も高く、高温器内でも使用可能。
  • 放電波形は国内外の規格を満足するだけでなく、デバイス・メーカ独自の社内規格に対応する事も可能。
  • 1ピンに1枚の小型ボードを採用している為、経路の低インピーダンス化を実現し、保守も容易。
  • LAN回線を接続することにより、遠地からの試験条件の作成、試験の開始指令の外、データ収集等可能。
  • 高温器を接続して最大125℃までのラッチアップ試験可能。
  • ラッチアップの特定ポイントをエミッション顕微鏡で検出可能。
  • ラッチアップの温度特性測定
  • ラッチアップ発生過程のモニタ
  • エミッション顕微鏡接続
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