帯電したデバイス、部品、ウェハーからの放電現象(CDM)による、静電気破壊をシミュレーションします。

	モデル1100-CDMは、従来のCDM-550の後継機として開発された最新モデルで、国内外の規格に準拠した試験方 (誘導帯電方式および直接充電方式)をサポートしております。またカメラと高精度ロボットにより正確なポジションにCDMストレスを印加することができます。
	広いワークエリア(特に高さ方向)は、特殊形状のデバイス、モジュール、基板に実装された部品などのCDM試験にも簡単に対応できます。

ピンコンタクト

CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。

直接充電方式CDM試験

主に日本国内で普及しているモデルです。

誘導帯電方式CDM試験

米国、ヨーロッパ等で主に使用されている方式です。

特長・機能

• JEDEC、EIAJ、ESDA規格対応
• 誘導帯電(FI-CDM)および直接充電(DC-CDM)のCDM試験
• 最大印加電圧は4000V
• カメラと高精度ロボットによる正確な位置合わせ
• デバイスピンの形状に合わせ印加ピンは交換可能
• デバイスピン(BGA)に荷重を掛けないポゴピン構造
• CDM放電の検出機能
• 湿度を30%以下にコントロールする除湿機能
• 印加ピンのクリーニング機能