【多ピン全自動試験装置】ESD/ラッチアップテスタ|モデル7000XB

Test & Measurement Technology

ESD/LATCH-UPテスタ モデル7000XB (最新モデル)

ESD試験機:モデル7000XB-E
ラッチアップ試験機:モデル7000XB-L
ESD/ラッチアップ試験機:モデル7000XB-EL
ESD/LATCH-UPテスタ[モデル7000X]

M7000XBは、多ピンICのESD試験とラッチアップ試験の評価試験装置です。これらの試験は、電子機器の耐久性と信頼性を確保するために非常に重要になります。又、高精度な測定と安全な試験環境を提供し、製品開発や品質管理プロセスをサポートします。

HBM試験とラッチアップ試験は、最新の国際規格(JEDEC)、国内規格(JEITA)に準拠しております。

構造はシンプルで、4辺の軸ロボットに取り付けたESD発生ユニットを目的のポジションに移動し静電気放電を発生させます。ユニットは交換可能で、修理やメンテナンスの際はユーザーによる対応も可能です。

特長・機能

  • MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA規格適合
  • システムピン数は、最大1024ピン
  • システムピンの許容電流は、最大4A
  • 最大10デバイスを一度に試験
  • システム診断と波形診断による点検機能
  • 5年の保証期間 (オプション)
  • 安全対策

ESD部

  • 最大印加電圧は8000V
  • マルチデバイス試験
  • 多彩なピンコンビネーション試験
  • 精密V/I電源を使用した破壊判定
  • 高速破壊判定機能 (オプション)

ラッチアップ部

  • ラッチアップ検出電源は最大6電源、オプションで12電源まで増設可能
  • ベクタ機能は、各端子のレベル固定、又はクロック・パターンが供給可能
  • 外部端子から供給できる電源電流は最大100A。 (専用DUT基板の製作)
  • サーモストリーマと連動した高温ラッチアップ試験が可能 (オプション)
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