CELESTORON-Iは、高速、高確度、高信頼度で、なおかつ経済的な、先端半導体デバイス構造の特性評価に適した、卓上型2端子TLP測定装置です。標準構成の特長と、追加可能なオプションによって、CELESTORON-Iは、現存す類似製品の中で、最も柔軟度の高い半導体構造の特性評価ツールとなっています。
この装置はウェーハ、パッケージのいずれも測定でき、TLP、VF-TLP、HBM ESD、MM ESD試験の任意の構成に構築できます。オプションのプローブにより、パッケージのピンやパット等、ストレスを印加していない部分の信号も測定できます。
本器のソフトは業界で、最もわかり易い構造となっており、グラフィック画像を使ってシステムの設定や、DUTとの接続を容易にできます。記録したTLPパルス電圧/電流波形の表示、計測/計算したI/V曲線、リーク電流測定及びDCのI/V曲線などが表示されます。操作者は試験電圧（ストレス・パルス）の範囲、パルス極性、リーク測定やカーブ測定のパラメータなどを選択することができます。また、ユーザーはTLPパルス幅の中で測定位置や測定範囲を選択可能です。また、データを収集した後で、これらの設定を変更して、測定結果の変化を調べることができます。
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