[맞춤형 모델] ESD / CDM 펄스 시뮬레이터 | Ecdm-400S-TLP

매니퓰레이터의 컨디셔닝 바늘을 통해 더 큰 IC 다이의 본딩 패드에 HBM, MM 또는 CDM (F-CDM 또는 D-CDM) 응력을 적용하면 내구성을 측정 할 수 있습니다.
손상은 다른 IC 테스터 또는 소스 미터로 감지됩니다.
저렴한 비용의 시스템이 수작업으로 작동 할 것으로 예상됩니다. 웨이퍼 테스트는 슬라이스 다이 테스트와 함께 가능할 수 있습니다.
TLP 구성도 가능합니다.

낮은 수준의 ESD 스트레스 또는

최근에는 MR 헤드 및 GaAs IC와 같은 매우 ESD에 민감한 장치가 증가하고 있습니다.
이러한 디바이스의 ESD 민감도를 측정하기 위해 IC 및 LSI에 대한 기존의 ESD 스트레스 요인은 적합하지 않습니다. 프로브 핀이 DUT에 접촉하거나 ESD 발생기의 릴레이 노이즈만으로 장치가 손상 될 수 있습니다. Ecdm-100E / 400E는 이러한 매우 민감한 응용 프로그램에 맞게 다듬을 수 있습니다.
특히, 트리밍 된 Ecdm-100E는 MR 헤드 응용 분야에서 잘 받아 들여지고 있습니다. HBM, MM, CDM (현장 유도 CDM 및 직접 충전 CDM)이 가능합니다.

TLP 구성

짧은 너비 TLP (전송 라인 펄스)를 사용하는 I-V 곡선 측정은 ESD 보호 소자의 특성화 절차로 널리 사용됩니다.
이 응용 프로그램에 대해 Ecdm100E / 400E를 구성 할 수 있습니다.
수동 측정이 표준이지만, GP-IB는 PC 제어 테스트 및 커브 플롯이 사용자 고유의 프로그램을 개발할 수 있도록 지정 될 수 있습니다.

기능・기능

• 전압 : 4kV (최대)
• Ip 펄스 : 0 ~ 6A
• Vp 펄스 : 0 ~ 2kV
• 누설 측정 : 0 ~ 30V / 10nA
• 프로브 : TLP (WT-6NM)
• 펄스 상승 : 10nS
• 펄스 폭 : 50, 100, 150, 200ns
• 옵션 : X-Y 스테이지