半導体メモリ・ソフトエラー評価装置

半導体メモリ・ソフトエラー評価装置　モデルSTF5000シリーズ

半導体メモリの、α 線、中性子等の放射線に対するエラーを検出する装置です。比較的少量のサンプルを放射線近傍に設置して行なう加速試験、又は、数百個以上の多数のサンプルを長時間連続して運転しながら、種々の環境でソフトエラーのチェックをするランニング試験のいずれにも構築可能です。

メモリチップにデータを書き込んだ後に、定期的に読み出しを行ないながらソフト・エラーを検出します。書込みパターン、メモリの品種、数量等の変更は、周辺回路及びプログラムの変更で対応します。

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