半導体・試料の電気的特性変化を高電圧・高温・多湿環境下で長期監視する耐性評価システム

デバイス、試料の劣化および誤動作が引き起こす、事故やトラブルが近年急増しております。当社では、高温・多湿環境下での高電圧加速試験により、お客様の製品に対する耐性評価時間の短縮に協力させていただいております。また放射線によるメモリの誤動作を評価するソフトエラー評価試験装置を製造しております。