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ESD LATCH UP TESTER  測試Pin數最多可達512/1024 Pins
Model 7000/7000X

最大1024 Pins: Model 7000XE/7000XL/7000XEL
                          最大512 Pins: Model7000E/7000L/7000EL

ESD LATCH UP TESTER 測試Pin數最多可達512/1024 Pins Model 7000/7000X

人體放電模式(HBM)和機器放電模式(MM)是我們在進行半導體元器件的靜電放電模式的試驗中的主要研究課題。而閂鎖效應對CMOS積體電路的結構性能的影響也是絕不可忽視的重要課題。TET 7000系列正是為解決此問題而應運而生的最新的全自動ESD及閂鎖效應測試設備。

TET7000系列是由被安裝在單軸自動裝置上的ESD脈衝發生單元決定ESD的測試模式。
使用壽命長,每隔幾年更新一次即可,每次只需更新ESD脈衝發生單元便可升級到最新規格版本。更新後,不僅可以使用舊的規格,也可偵測到瞬態閂縮效應。

特徵

  • 符合MIL、EIA/JEDEC、JEITA、AEC、ESDA等標準。
  • 最多可實現同時測試10顆元器件。
  • 快速掃描只需原來時間的1/10甚至以下(設置高速ESD印加模式時)。
  • 搭配火箭用connector,安全性好,並可耐高溫。
  • 放電波形多元化,不僅可以滿足國內外的用戶,還可以按照元器件公司的指定規格設計。
  • 每個Pin對應一個小PC板,可實現回路中的低阻抗化,方便保護元器件。
  • 若連接區域網路,可實現遠端設定測試條件和測試開始的指令,採集測試資料等
  • 簡單設計可移除512 Pins DUT板。
  • 其選項溫度爐可進行高達125℃的閂鎖效應測試。
  • 其選項數碼顯微鏡可偵測閂鎖效應圖形。
  • 可測量閂鎖效應的溫度係數。
  • 可偵測閂鎖效應發生的全過程。
  • 可連接數碼顯微鏡。
  • 可選Test multiple DUT Board。