模拟由于带电设备, 组件和晶片的放电现象(CDM)而引起的静电击穿。

	1100-CDM型是作为传统CDM-550的后继产品而开发的最新型号，并支持符合国际标准的测试方法 (Field-Induced CDM)。此外，相机和高精度机器人可以将CDM应力施加到精确的位置。
	较大的工作区域 (尤其是在高度方向上) 可以轻松支持对安装在具有特殊形状的板上的设备，模块和组件的CDM测试。

引脚接触

带电设备模型 (CDM) 用于模拟从带电电子组件的任何金属端子或由带电人体握住的小型金属工具向电子组件的金属端子向金属的放电。 CDM放电会导致非常快速的电荷转移，然后电压应力会损坏组件。 CDM测试系统分析了组件抵抗CDM应力的稳定性。

Field-Induced CDM Test

该测试在世界范围内被广泛使用。

特征/功能

• 符合ESDA / JEDEC JS-002
• 最高电压4kV
• 通过摄像头和高精度机器人进行精确定位
• 可以根据设备引脚的形状更换接触针。
• Pogo引脚结构，不会对设备引脚 (BGA) 施加负载
• CDM放电检测功能
• 除湿功能将湿度控制在30％或以下
• 触针的清洁功能