その他の試験装置のご案内です

Test & Measurement Technology

オープン・ショート・テスタ ESPIER-2001シリーズ

モデルESPIER-2001シリーズ
モデルDVR-V/S

ICの性能を完全に評価できなくても、ピン間のオープン/ショート等のDC特性を短時間に試験したい場合があります。例えば、バーンイン前後のICの簡易的な選別、最終出荷試験前の選別検査、出荷直前の混入検査など。このような目的には、通常、試験項目の豊富な本格的DCテスタよりは、価格の安い、高速器が適切です。ESPIER 2001は、このようなアプリケーションに適しています。

単に、オープン/ショートだけでなく、もう少しレベルの高いテスト、例えば、入力リーク電流、電源電流、または、メモリの限られた領域のライト/リード試験等を付け加えたモデルを製作することもできます。

特長・機能

  • スタンド・アロン動作
  • 4個のアナログ比較器による同時電圧比較
  • 半導体リレー採用により長寿命、高信頼性
  • 定電流印加テスト
  • ハンドラ等との接続が容易
  • ピン数の拡張可能
  • テスト・プログラムの作成、保存が容易
  • ホストPC接続可
<<前のページへ戻る
現在ご検討中または今後ご予定のあるお客様、また、製品についての資料請求、またご不明点や、ご質問などございましたら、どうぞお気軽にお問い合わせ下さい。
資料請求・お問い合わせ