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东京电子交易株式会社（TET）是一家基于高速脉冲技术以及其他专业技术的高科技电子公司。
我们从事于各种仪器和自动化系统的设计、制造、进口和销售，这些系统用于以高精度测量或分析模拟或数字信号。
自 1977 年成立以来，我们一直致力于为众多客户开发电子元件和半导体器件。
在技术上，TET 最初从事于销售与维护高性能脉冲发生器，以及美国 E-H 研究实验室制造的其他仪器。
如今，我们生产出了全自动 ESD 、闩锁效应测试系统、CDM 测试系统和其他定制系统。
因为我们是专业的电子测量公司，我们不仅设计和销售产品，我们还可以通过我们的维护、应用和咨询等活动来帮助您改善开发项目的时间安排。
公司概况
Tel: +81-42-548-8011
传真：+81-42-548-8013
PAGE TOP历史沿革
以 400 万日元的实收资本在东京府中市成立。
与两家美国公司签订独家经销商合同，并开始从这两家公司进口，从事与进口仪器有关的系统业务。
搬迁至东京霍亚市。
开始销售防静电座椅。
开发允许强力放电的 CDM 测试系统。
开发了 E-cdm 400 系列 ESD/CDM 模拟器。
实收资本增加到 19,805,500 日元。
ISO9001-2000 认证。（2011 年证书撤销）
开始处理从英国 Pickering Interfaces 进口的 Switch 系统。（2014 年处理结束）
搬迁至东京都立川市紫崎町5-16-30。
开始处理从 Thermo Fisher SCIENTIFIC 进口的测试仪。（2008 年处理结束）
开发了 Model 7000X 1024 引脚ESD 和闩锁效应测试仪。
开发出微缝隙放电检测器 iESD-10A。
确认了微缝隙放电检测的专利。
Model 1100/1200 系列 ESD Station 的开发完成。采用全球首款 ESD 测试仪进行 ESD/闩锁效应/CDM 测试。
Main handling products
* CDM tester
* LATCH-UP tester
* TLP tester
* DC tester
* Gate leak(GL) tester
* AC parameter tester
* Electro migration test system
* dv/dt tester
* Semiconductor memory soft error test system
* Open/Short tester
* Wafer/Probe Model 45001WP
* High speed/High-voltage pulse generator Model 632 (50ps/2.5kV)
* Coaxial equipment for high electric power
* Anti-static chairs for laboratory
* Anti-static chairs for clean room
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