这些是用于评估晶圆的可靠性测试系统。

测试和测量技术

测试和推出符合所有标准的 Wafer 测试仪产品线。

Wafer 测试仪

  • Ecdm Wafer Model Ecdm-400SW
    *晶圆半自动 ESD 测试仪
    *晶圆或晶粒的低成本测试
    *应力水平和测量点由 PC 通过 GP-IB 进行编程。